[发明专利]一种集成霍尔传感器芯片的噪声的自测试方法及装置在审
| 申请号： | 202310027731.4 | 申请日： | 2023-01-09 |
| 公开（公告）号： | CN116295579A | 公开（公告）日： | 2023-06-23 |
| 发明（设计）人： | 杜凯;杨承晋;刘涛 | 申请（专利权）人： | 深圳市森国科科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01D18/00 | 分类号： | G01D18/00 |
| 代理公司： | 深圳砾智知识产权代理事务所(普通合伙) 44722 | 代理人： | 张合成 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤海*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及霍尔传感器技术领域，尤其涉及一种集成霍尔传感器芯片的噪声的自测试方法，该方法包括：在控制集成霍尔传感器芯片的电机停止输出之后，获取所述集成霍尔传感器芯片的霍尔元件的多个霍尔信号周期值，其中，所述霍尔信号周期值指为在一个循环周期内霍尔信号的第一目标值和第二目标值的差值；根据所述多个霍尔信号周期值，得到所述霍尔信号的噪声值；根据所述噪声值，确定所述霍尔信号的噪声滞回值。该方法对集成霍尔传感器芯片的噪声进行集成测量，精准地测定噪声干扰，提高噪声测量的精确度，还能将芯片的滞回值设定较小，使具有该芯片的电机能在更小的磁场变化下正常运行。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成 霍尔 传感器 芯片 噪声 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
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