[发明专利]电子芯片静电放电潜在失效预先诊断系统和方法在审
| 申请号： | 202310017769.3 | 申请日： | 2023-01-06 |
| 公开（公告）号： | CN115932511A | 公开（公告）日： | 2023-04-07 |
| 发明（设计）人： | 杨铭;高志良;韩炎晖;王若珏;胡子俊;何积浩;袁亚飞;唐旭;张宇;周黎 | 申请（专利权）人： | 北京东方计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01R31/12 | 分类号： | G01R31/12;G01R19/165 |
| 代理公司： | 北京谨诚君睿知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11538 | 代理人： | 延慧;李红 |
| 地址： | 100086 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种电子芯片静电放电潜在失效预先诊断系统和方法，潜在失效预先诊断系统包括：静电放电模块，用于对电子芯片管脚进行静电放电，进行加速失效；加速失效作用模块，用于将潜在失效加速演变为立即失效；电性能测试表征模块，用于测试经受静电放电与加速失效作用后的电子芯片的电性能参数；多个静电放电事件侦测模块，用于对静电放电电磁辐射进行在线表征。本发明实现了电子芯片静电潜在失效在线预先诊断，有利于降低静电潜在失效对电子系统的危害，保障电子系统的静电可靠性，具有重要的经济和社会效益，推广应用转化前景广阔。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 芯片 静电 放电 潜在 失效 预先 诊断 系统 方法 | ||
【主权项】：
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