[发明专利]测试和测量系统在审
| 申请号： | 202280017342.7 | 申请日： | 2022-02-25 |
| 公开（公告）号： | CN116940853A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | J·J·皮克德;K·D·鲁尔;M·A·史密斯 | 申请（专利权）人： | 特克特朗尼克公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 毕铮;吕传奇 |
| 地址： | 美国俄*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 一种测试和测量系统包括初级仪器，所述初级仪器具有：输入，用于从被测设备(DUT)接收用于测量或分析的测试信号并从测试信号生成测试波形；以及复制器，用于向一个或多个次级仪器发送测试波形的副本。一个或多个次级仪器中的每一个被构造成访问测试信号的副本以进行分析，并且一个或多个次级仪器中的每一个包括：接收器，被构造成接收与测试波形的副本的测量或分析相关的命令；一个或多个进程，用于执行所接收的命令；以及输出，用于发送所执行的命令的结果以显示在与一个或多个次级仪器的任何用户接口分离的用户接口上。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 测量 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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