[实用新型]一种能自动开启测试的ICT测试治具及设备有效
申请号: | 202223501631.0 | 申请日: | 2022-12-26 |
公开(公告)号: | CN219842512U | 公开(公告)日: | 2023-10-17 |
发明(设计)人: | 李宁;韩智超 | 申请(专利权)人: | 广州美维电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
代理公司: | 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 | 代理人: | 冯学佳 |
地址: | 510663 广东省广州*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本申请提供一种能自动开启测试的ICT测试治具:自动化控制装置控制上模块相对下模块向下运动,所述第一探针和第二探针与上模块的金属连接部接触形成回路,开启测试;上模块向上运动,所述第一探针和第二探针与金属连接部分离断开回路,检测设备停止测试。采用此种方案,通过自动化控制装置开启测试,每次测试前不再需要手动按控制盒的测试按钮,提高了测试效率。采用的探针开关,使用次数寿命明显提高,降低了故障率。 | ||
搜索关键词: | 一种 自动 开启 测试 ict 设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
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