[实用新型]一种半导体激光器阵列单巴测试装置有效
| 申请号： | 202223457525.7 | 申请日： | 2022-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN218956723U | 公开（公告）日： | 2023-05-02 |
| 发明（设计）人： | 郎超;杨林伟;马威;唐强;于振坤;陈晓华 | 申请（专利权）人： | 北京凯普林光电科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京市隆安律师事务所 11323 | 代理人： | 权鲜枝;王沛杰 |
| 地址： | 100070 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型提出一种半导体激光器阵列单巴测试装置，该装置包括：底板；液冷座，用于对微通道单巴通入冷却液；正极块，用于连接电源正极，将微通道单巴的正极导电；负极块，用于连接电源负极，将微通道单巴的负极导电；导电压块，用于将微通道单巴的正极和负极导通，并且与微通道单巴的密封圈密封；驱动单元，与导电压块连接，用于控制导电压块的移动速度和力度。本实用新型装置采用驱动单元控制导电压块的移动速度和力度，导电压块的按压力度可调节，进而密封圈的压缩量可以针对每一种微通道单巴产品进行适应性调整，避免现有技术中手工调节紧固件带来紧固力度不易控制而引发的微通道单巴形变问题和密封不良的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体激光器 阵列 测试 装置 | ||
【主权项】：
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