[实用新型]一种运用于生产线的芯片内部通路测试装置有效
| 申请号： | 202223414038.2 | 申请日： | 2022-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN219084996U | 公开（公告）日： | 2023-05-26 |
| 发明（设计）人： | 刘锡淮 | 申请（专利权）人： | 无锡泽芯微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 无锡三谷高智知识产权代理事务所(普通合伙) 32569 | 代理人： | 陈勤 |
| 地址： | 214000 江苏省无锡市新*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及运用于生产线的芯片内部通路测试装置技术领域，且公开了一种运用于生产线的芯片内部通路测试装置，通过液压杆的带动，固定连接在液压杆底部的限位板向下移动，将芯片放置在限位卡环顶部，将所需检测的芯片全部放置在限位卡环上后，通过液压杆升起，通过固定连接在液压杆顶部的连接板与限位板之间形成的限位，使得芯片被限位，防止在检测过程中由于外界因素对检测结果产生影响；当受到外界撞击时，防撞板带动固定连接在内侧的滑杆滑动连接于测试放置板两侧开设的限位孔内壁，又滑杆外壁套接的限位弹簧使得滑杆在向内滑动时起着向外推动的作用，减少由于外界的撞击对生产线的芯片内部通路测试的结果产生影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 运用于 生产线 芯片 内部 通路 测试 装置 | ||
【主权项】：
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