[实用新型]一种电子元件的大容量老化座有效

专利信息
申请号: 202222757961.X 申请日: 2022-10-19
公开(公告)号: CN218382955U 公开(公告)日: 2023-01-24
发明(设计)人: 陈侠文;刘邦超;肖子龙 申请(专利权)人: 深圳市新啟电子科技有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 代理人: 何路;游强
地址: 518000 广东省深圳市龙华*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种电子元件的大容量老化座,包括老化座本体,老化座本体的顶部外壁上一体成型有检测腔,且检测腔底部内壁的轴心处一体成型有柱块。本实用新型老化座本体顶部一体成型的检测腔内部焊接有四个插接导电座,使得四个电子元件可同时进行检测,在提升老化座本体的检测容量的同时,有效的提升了老化座对电子元件进行老化检测的效率,盖板翻转一端契合在定位槽的内部,此时,定位板的底部外壁在限位板和第一弹簧的作用下与盖板顶部外壁的一端相贴合并对盖板起到很好的限位,使得盖板对插接在插接导电座内部的电子元件起到很好的压持,从而提升了插接导电座内部电子元件进行老化检测时的稳定性。
搜索关键词: 一种 电子元件 容量 老化
【主权项】:
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