[实用新型]一种eFlash电路和模拟电路共用测试PAD的电路结构有效
| 申请号： | 202222733417.1 | 申请日： | 2022-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN218729909U | 公开（公告）日： | 2023-03-24 |
| 发明（设计）人： | 许延华;佟慧超;孟颖;白俊峰 | 申请（专利权）人： | 北京中电华大电子设计有限责任公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 102209 北京市昌平区北七家镇未*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种eFlash电路和模拟电路共用测试PAD的电路结构。其中模拟测试电路采用NMOS控制传送0.5～2.75V电位到测试PAD上，eFlash测试电路采用PMOS控制传送4V电位到测试PAD。因两者在电源和控制方式上的差异，简单的连接在一起共用测试PAD容易引起漏电，因此设计此电路。本实用新型的特征在包括一个NMOS开关管，三个PMOS开关管和一个开关控制电路：所述MOS开关管在导通时可以正确传输待测电位，关闭时则处于截止状态；所述开关控制电路为改进型电平移位器电路，其输出信号施加在MOS开关管的栅极来控制MOS开关管的导通或截止。其优点在于当电源电位较低时，电平位移器不工作，避免漏电流产生。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 eflash 电路 模拟 共用 测试 pad 结构 | ||
【主权项】：
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