[实用新型]一种芯片测试设备有效
| 申请号： | 202222722148.9 | 申请日： | 2022-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN218350320U | 公开（公告）日： | 2023-01-20 |
| 发明（设计）人： | 张学伟 | 申请（专利权）人： | 天津芯元微科电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02;G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 300450 天津市滨海新区自贸试验区(空港经济区)东三道安和*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及芯片测试技术领域，尤其是一种芯片测试设备，包括检测设备外壳，所述检测设备外壳的前端安装有检测控制面板，所述检测控制面板通过电线与电动推杆电连接，所述电动推杆的外壁与检测设备外壳相固接，所述电动推杆的输出端固接有横板，所述横板的底部通过滑槽与两个弹簧探针滑动连接。通过步进电机、锥齿轮组、槽轮和传动组件之间的配合，转杆转动一圈带动槽轮转动十分之圈，槽轮带动传动组件间歇移动，随着槽轮转动十分之圈，传动组件中的链条会使芯片放置板向右移动到上一个芯片放置板的位置处，从可以使芯片放置板精准的移动到弹簧探针的正下方，使得与芯片的对接更加精准，从而保证了芯片的正常通电，避免了出现误差。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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