[实用新型]一种快速夹芯片测试装置有效
| 申请号： | 202222528423.3 | 申请日： | 2022-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN218744090U | 公开（公告）日： | 2023-03-28 |
| 发明（设计）人： | 宁丽娟 | 申请（专利权）人： | 深圳市瑞芯辉科技有限公司 |
| 主分类号： | B21D5/01 | 分类号： | B21D5/01 |
| 代理公司： | 北京深川专利代理事务所(普通合伙) 16058 | 代理人： | 疏亚雅 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市光明区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及电子芯片测试技术领域，特别涉及一种快速夹芯片测试装置，包括：测试座以及设置于所述测试座上的测试结构，所述测试结构包括至少一组相对设置的两个测试片，两个所述测试片之间形成有供电子芯片的管脚插入的测试通道，两个所述测试片相背离的一侧设置有凸起部；浮动板设置于所述测试座的上方，且所述浮动板与所述测试座之间通过弹性件连接，所述浮动板上对应所述测试片设置的区域设置有避空位，以及所述测试座上设置有支撑板，所述支撑板的一端穿过所述浮动板设置，所述浮动板上对应所述凸起部的位置设置有驱动杆。可看出，本申请的快速夹芯片测试装置中测试片抵持在管脚的过程中，测试片与管脚之间不会产生竖直方向上的摩擦力。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 快速 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
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