[实用新型]一种芯片测试分选机

摘要

本实用新型涉及芯片生产设备技术领域，尤其涉及一种芯片测试分选机，包括测试底座、分选顶架、取料手柄、转动轴、滑动架、测试架和测试连接座。本实用新型通过设置取料手柄和转动轴，利用滑动架带动、测试架在分段顶架上上下滑动，从而便于芯片在测试架上的出料，进而提高芯片分选机的分选效率。待检测的芯片设置在测试架上；取料手柄竖直状态下，测试架位于滑动架内，测试架与测试连接座接触，此时测试连接座连接测试主机，利用测试架对芯片进行测试；取料手柄水平状态下，测试架位于滑动架外，测试架与测试连接座分离，测试结束，手动对滑动架进行复位，测试失败的芯片所在的测试架上的报警指示灯亮起，从而提醒工作人员对错误芯片进行分选。