[实用新型]一种用于光学膜片的AOI检测机构

摘要

本发明提供了一种用于光学膜片的AOI检测机构,包含分布在膜面上下的双工位拍摄单元；双面拍摄双工位拍摄单元包含呈错开分布在膜面上下两侧的上工位单元和下工位单元；上工位单元和下工位单元都是由若干相机水平平行设置构成；本发明通过聚焦光源单元位于膜面上下两侧，其中轴线所在延长线与膜面互相垂直，这个交叉点也是双工位拍摄单元中的相机中轴线与膜面的交点，光源照射点和相机拍摄点在同一个位置，达到更好地聚焦、拍摄、检测光学膜片的作用，并且，相机呈倾斜错开设置，其中轴线的延长线与膜面的夹角A为50‑70°能够全面拍照清楚膜面，且拍照所产生的反射光也不会对拍照区域产生影响，实现更好地拍摄效果。