[实用新型]一种IC测试装置有效
| 申请号： | 202221308558.2 | 申请日： | 2022-05-30 |
| 公开（公告）号： | CN217820691U | 公开（公告）日： | 2022-11-15 |
| 发明（设计）人： | 黄庆云 | 申请（专利权）人： | 深圳市振云精密测试设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 深圳市龙成联合专利代理有限公司 44344 | 代理人： | 董隽 |
| 地址： | 518100 广东省深圳市宝安区西乡街道龙珠社区10*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型属于测试设备技术领域，涉及一种IC测试装置，包括：底座、上盖、上加强板、压头及旋钮组件；所述底座上设有用于安装待测品的安装区域；所述上盖可翻转设于所述底座上；所述上加强板可上下移动的安装于所述上盖的底部；所述压头通过第一复位部件可上下移动安装于所述上加强板底部，且所述压头位于所述安装区域的正上方，用于下压所述待测品，以使所述待测品上的连接器能够与所述安装区域内的测试探针连接；所述旋钮组件可转动设于所述上盖上，且所述旋钮组件的底部穿过所述上盖与所述上加强板抵接；其中，转动所述旋钮组件时，旋钮组件能够驱动所述上加强板朝向所述压头移动，以带动所述压头朝向安装区域的方向移动。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ic 测试 装置 | ||
【主权项】：
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