[实用新型]一种IC测试装置

说明书

本实用新型属于测试设备技术领域，涉及一种IC测试装置，包括：底座、上盖、上加强板、压头及旋钮组件；所述底座上设有用于安装待测品的安装区域；所述上盖可翻转设于所述底座上；所述上加强板可上下移动的安装于所述上盖的底部；所述压头通过第一复位部件可上下移动安装于所述上加强板底部，且所述压头位于所述安装区域的正上方，用于下压所述待测品，以使所述待测品上的连接器能够与所述安装区域内的测试探针连接；所述旋钮组件可转动设于所述上盖上，且所述旋钮组件的底部穿过所述上盖与所述上加强板抵接；其中，转动所述旋钮组件时，旋钮组件能够驱动所述上加强板朝向所述压头移动，以带动所述压头朝向安装区域的方向移动。

技术领域

本实用新型属于测试设备技术领域，涉及一种IC测试装置。

背景技术

IC测试装置为一种用于测试IC板的装置，目前IC板的种类繁多，不同类型的IC板厚度也不一样，现有的IC测试装置压头通过螺栓固定在上盖底部，为不可移动状态，那么当IC板的厚度过厚时，压头强压容易导致IC板发生损坏，压头过薄时，会导致压头不能够作用于IC板上而将IC板稳定的进行定位，从而导现有的IC测试装置能够测试的IC板的类型过于单一。

发明内容

本实用新型的目的在于针对现有技术的不足，提供一种IC测试装置，以解决现有的测试装置不能够对多种厚度的IC板进行测试的问题。

为了实现上述目的，本实用新型采用了以下技术方案：

一种IC测试装置，包括：

底座，所述底座上设有用于安装待测品的安装区域；

上盖，所述上盖可翻转设于所述底座上；

上加强板，所述上加强板可上下移动的安装于所述上盖的底部；

压头，所述压头通过第一复位部件可上下移动安装于所述上加强板底部，且所述压头位于所述安装区域的正上方，用于下压所述待测品，以使所述待测品上的连接器能够与所述安装区域内的测试探针连接；

旋钮组件，所述旋钮组件可转动设于所述上盖上，且所述旋钮组件的底部穿过所述上盖与所述上加强板抵接；

其中，转动所述旋钮组件时，旋钮组件能够驱动所述上加强板朝向所述压头移动，以带动所述压头朝向安装区域的方向移动。

进一步的，所述旋钮组件包括：旋钮及固定安装于所述旋钮的底部的转动连接部件，所述转动连接部件的外侧壁上设有外螺纹，所述上盖的中间区域还设有中空槽，所述中空槽的内侧壁上设有内螺纹，所述外螺纹与所述内螺纹相配合以将所述旋钮组件可转动安装于所述上盖上，所述转动部件的底部与所述上加强板抵接。

进一步的，所述上盖上设有导向柱，所述旋钮的底部还设有导向槽，所述导向柱位于所述导向槽内，用于限制所述旋钮过度转动。

进一步的，所述上盖的四周区域设有连接第一安装孔，所述第一安装孔内安装有第一连接螺栓，所述第一连接螺栓通过第二复位部件安装于所述第一安装孔内，且所述第一连接螺栓的其中一端穿过所述第一连接孔与所述上加强板固定。

进一步的，所述上加强板的四周还设有第二安装孔，所述第二安装孔上还设有第二连接螺栓，所述第二连接螺栓的其中一端穿过所述第二安装孔与所述压头固定。

进一步的，所述第一复位部件的其中一端与所述压头固定，所述第一复位部件的另一端与所述上加强板固定。

进一步的，所述上盖的前端可转动设有卡勾，相应的，所述底座的前端还设有卡板，所述卡勾的勾部勾接所述卡板，以将所述上盖与所述底座锁定。

进一步的，所述卡勾的按压部上还设有第一弹性部件，所述第一弹性部件的一端与卡勾上部固定，所述第一弹性部件的另一端与上盖的前侧固定。