[实用新型]一种内存芯片的智能测试设备有效
| 申请号： | 202221139140.3 | 申请日： | 2022-05-12 |
| 公开（公告）号： | CN217690055U | 公开（公告）日： | 2022-10-28 |
| 发明（设计）人： | 阮健军 | 申请（专利权）人： | 全中半导体（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京奥肯律师事务所 11881 | 代理人： | 王娜 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤海街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体是一种内存芯片的智能测试设备，包括底板，所述底板顶部外壁的中间位置安装有固定机构，所述固定机构包括驱动件，所述驱动件的顶部安装有支撑板，所述支撑板的顶部外壁上固定安装有固定座，所述固定座顶部开有矩形口，所述矩形口的四周内壁上固定安装有橡胶垫，所述矩形口的底部内壁上设有缓冲机构，所述橡胶垫的内壁上安装有测试槽，所述底板顶部外壁的两侧均竖直安装有竖板，本实用新型利用微调电机微调测试槽的摆放角度，便于适合内存芯片内存条的插入，通过橡胶垫起到缓冲的效果，通过阻尼缓冲筒、阻尼缓冲杆和弹簧，将弹性势能转化为阻尼力而减缓振动，使得装置支撑稳定。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 内存 芯片 智能 测试 设备 | ||
【主权项】：
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