[实用新型]多端口射频微波芯片测试系统有效

专利信息
申请号: 202220900471.8 申请日: 2022-04-18
公开(公告)号: CN217739387U 公开(公告)日: 2022-11-04
发明(设计)人: 袁凤国;周宏力 申请(专利权)人: 成都卓芯科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/04
代理公司: 南京常青藤知识产权代理有限公司 32286 代理人: 袁夫文
地址: 610000 四川省成都*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 实用新型涉及芯片测试相关技术领域,具体为多端口射频微波芯片测试系统,包括底座、载物台,一级机械臂、夹持结构、二级机械臂和测试机构,载物台、一级机械臂、二级机械臂均与底座固定连接,测试机构与二级机械臂的端部相连接,其特征在于:夹持结构包括横梁、安装板、导杆、传动丝杠、第一夹持板、第二夹持板;通过设置由底座、载物台,一级机械臂、夹持结构、二级机械臂和测试机构组合构成的射频微波芯片测试系统,并通过在载物台的芯片定位槽中开设一级槽口和二级槽口,并将夹持结构设置成由横梁、安装板、导杆、传动丝杠、第一夹持板、第二夹持板组合构成,从而便于将测试完成的射频微波芯片从芯片定位槽之中取出。
搜索关键词: 多端 射频 微波 芯片 测试 系统
【主权项】:
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