[实用新型]细针接触式岩体结构面三维形貌测量仪有效

专利信息
申请号: 202220728703.6 申请日: 2022-03-31
公开(公告)号: CN217442469U 公开(公告)日: 2022-09-16
发明(设计)人: 梁佳佳;江志豪;朱华;魏超锋;马耀川;张斌;纪铜鑫;王江;郭广献;王立强;未洪雷 申请(专利权)人: 北京东方新星勘察设计有限公司
主分类号: G01B5/20 分类号: G01B5/20
代理公司: 福州元创专利商标代理有限公司 35100 代理人: 陆帅;蔡学俊
地址: 100070 北京市丰台区南*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种细针接触式岩体结构面三维形貌测量仪,包括摄像头、升降组件及安装在升降组件上的测量组件,摄像头设置在测量组件外旁侧,用于拍摄测量组件的测量结果;测量组件包括细针、与升降组件相连接的外壳,所述外壳上沿横向间隔设置若干列用于放置细针的竖孔,外壳内设置有能夹固一列竖孔内各个细针的夹具,每列竖孔与独立的一个夹具对应配合;本测量仪结构简单,设计合理,测量速度快,便携易用、成本低、满足工程精度、无需充电,适用于室内与野外现场的岩体结构面三维形貌测量,细针与岩体结构面表面接触后发生竖向相对滑动,形成岩体结构面三维表面形貌;相机可在细针形成表面轮廓后将细针位置变化拍摄记录下来。
搜索关键词: 接触 式岩体 结构 三维 形貌 测量仪
【主权项】:
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