[实用新型]一种晶片测试的可调导向治具有效
| 申请号： | 202220617183.1 | 申请日： | 2022-03-21 |
| 公开（公告）号： | CN217112597U | 公开（公告）日： | 2022-08-02 |
| 发明（设计）人： | 钟树;张会战;徐垚;黄旭波;梁延培;陶锋;陈永洪;谢刚刚;陈勇;郑朝生 | 申请（专利权）人： | 广东利扬芯片测试股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/04;B25H1/10 |
| 代理公司： | 东莞创博知识产权代理事务所(普通合伙) 44803 | 代理人： | 郭佳 |
| 地址： | 523000 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种晶片测试的可调导向治具，包括操作板、工作台，所述操作板的上端开设有活动槽，所述操作板的上端靠近活动槽的后侧设置有调节机构，所述调节机构包括固定设置在操作板上端靠近活动槽后侧的固定架，所述操作板的上端靠近固定架的后侧固定设置有电机，所述固定架的内侧活动设置有转动轴，所述转动轴的外侧靠近固定架的前侧固定设置有固定环，所述固定环的一端固定设置有连接杆。本实用新型所述的一种晶片测试的可调导向治具，通过拧动主旋钮使得调节杆沿着螺纹轴移动从而使得调节杆改变控制杆与连接杆的夹角达到便于调整工作台移动距离的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 晶片 测试 可调 导向 | ||
【主权项】：
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