[实用新型]一种晶片测试的可调导向治具有效
| 申请号： | 202220617183.1 | 申请日： | 2022-03-21 |
| 公开（公告）号： | CN217112597U | 公开（公告）日： | 2022-08-02 |
| 发明（设计）人： | 钟树;张会战;徐垚;黄旭波;梁延培;陶锋;陈永洪;谢刚刚;陈勇;郑朝生 | 申请（专利权）人： | 广东利扬芯片测试股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/04;B25H1/10 |
| 代理公司： | 东莞创博知识产权代理事务所(普通合伙) 44803 | 代理人： | 郭佳 |
| 地址： | 523000 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 晶片 测试 可调 导向 | ||
1.一种晶片测试的可调导向治具，包括操作板(1)、工作台(3)，其特征在于：所述操作板(1)的上端开设有活动槽(2)，所述操作板(1)的上端靠近活动槽(2)的后侧设置有调节机构(7)，所述调节机构(7)包括固定设置在操作板(1)上端靠近活动槽(2)后侧的固定架(71)，所述操作板(1)的上端靠近固定架(71)的后侧固定设置有电机(72)，所述固定架(71)的内侧活动设置有转动轴(73)，所述转动轴(73)的外侧靠近固定架(71)的前侧固定设置有固定环(74)，所述固定环(74)的一端固定设置有连接杆(75)，所述连接杆(75)的前端通过转轴活动设置有控制杆(76)，所述控制杆(76)的内侧活动设置有调节杆(77)，所述调节杆(77)的外侧靠近控制杆(76)的前侧活动设置有活动杆(78)，所述活动杆(78)的外侧通过转轴活动设置有活动架(79)。
2.根据权利要求1所述的一种晶片测试的可调导向治具，其特征在于：所述转动轴(73)的前端固定设置有调节块(710)，所述调节块(710)的内侧活动设置有螺纹轴(711)，所述螺纹轴(711)贯穿调节杆(77)的内部，所述螺纹轴(711)与调节杆(77)之间螺纹连接。
3.根据权利要求2所述的一种晶片测试的可调导向治具，其特征在于：所述螺纹轴(711)的上端固定设置有主旋钮(712)，所述转动轴(73)的后端安装在电机(72)的前端处，所述固定环(74)的形状为圆环形。
4.根据权利要求3所述的一种晶片测试的可调导向治具，其特征在于：所述活动架(79)的一端与工作台(3)的一端固定连接，所述活动架(79)的形状为U字形，所述主旋钮(712)的形状为六边形。
5.根据权利要求1所述的一种晶片测试的可调导向治具，其特征在于：所述操作板(1)的下端固定设置有支撑腿(4)，所述操作板(1)的上端靠近活动槽(2)的一侧固定设置有主滑轨(5)，所述主滑轨(5)的外侧滑动设置有主滑架(6)，所述主滑架(6)的上端与工作台(3)的下端固定连接。
6.根据权利要求5所述的一种晶片测试的可调导向治具，其特征在于：所述主滑轨(5)的数量有两组，两组所述主滑轨(5)之间呈中心对称关系，所述主滑架(6)的形状为U字形，所述主滑架(6)的数量有两组，两组所述主滑架(6)均分布在两组主滑轨(5)的外侧处，所述支撑腿(4)的数量有四组，四组所述支撑腿(4)均分布在操作板(1)的下端四个拐角处。
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