[实用新型]一种新型嵌入式调试设备

摘要

本实用新型公开一种新型嵌入式调试设备，其包括片上总线控制器，该片上总线控制器包括主控制芯片、与主控制芯片连接的1个或者多个存储器、与主控制芯片连接的1个或者多个晶体振荡器、以及用于对主控制芯片进行调试的调试模块；所述调试模块包括调试控制器、内存储器、FLASH存储器、JTAG接口以及SPI接口，所述内存储器、FLASH存储器、JTAG接口以及SPI接口均与所述调试控制器电连接，所述内存储器和所述FLASH存储器分别与JTAG接口和SPI接口电连接。本新型通过增设调试模块，以此替换专门的调试总线和仿真器，实现在设备端程序存储与调试，而且还将现有技术中用于调试的SPI接口、UART接口或者JTAG接口等接口解放出来，释放了CPU IO接口资源以及PCB电路板的空间。