[实用新型]一种电子元器件外观缺陷检测装置有效
| 申请号： | 202220442277.X | 申请日： | 2022-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN216954468U | 公开（公告）日： | 2022-07-12 |
| 发明（设计）人： | 彭志强 | 申请（专利权）人： | 广州苏试众博环境实验室有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/30 | 分类号： | G01B21/30;G01N33/00 |
| 代理公司： | 东莞市展智知识产权代理事务所(普通合伙) 44308 | 代理人： | 冯卫东;茅小燕 |
| 地址： | 510000 广东省广州市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及电子元器检测技术领域，尤其为一种电子元器件外观缺陷检测装置，包括电子元器件传送带，所述电子元器件传送带右侧的后方设有传送带电机，所述电子元器件传送带的端面并且位于传送带电机的前方设有调节限位组件，本实用新型中通过调节限位组件中设置的限位板，对不同大小的电子元件的位置进行限制，时刻保证电子元件能在合适的位置，进行检测，从而解决了现有的电子元器件外观缺陷检测装置缺乏限位结构，在对大小不同的电子元件的检测时，检测器的检测面积有限，电子元件的放置位置发生偏移，导致检测器的检测结果受到影响的问题，进而使装置能够适用于各种大小不同的电子元件的检测，使装置的实用性增强。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子元器件 外观 缺陷 检测 装置 | ||
【主权项】：
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