[实用新型]圆盘式芯片测试座有效
| 申请号： | 202220321060.3 | 申请日： | 2022-02-17 |
| 公开（公告）号： | CN217007421U | 公开（公告）日： | 2022-07-19 |
| 发明（设计）人： | 殷凌一 | 申请（专利权）人： | 宁波芯测电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241 | 代理人： | 林天哲 |
| 地址： | 315000 浙江省宁波*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种圆盘式芯片测试座，包括主体，所述主体包括底座和圆环形的上盖，上盖套设在底座上，两者之间可上下移动，上盖上设有卡槽，底座上设有与卡槽配合的卡钩，底座外侧设有安装槽，安装槽底部设有伸出孔，安装槽上设有电连接器，电连接器从上到下包括V型夹和伸出脚，伸出脚穿设在伸出孔上，V型夹包括内边和外边，内边与安装槽侧壁抵接，外边朝向外侧，外边上设有动作边，上盖内侧壁上设有收纳槽，动作边设置在收纳槽内。本实用新型得到的一种圆盘式芯片测试座，具有以下优点：结构简单，待测芯片安装固定方便，且固定效果好，测试座组装简单，使用效果好，不会对待测芯片的外观造成损伤，且更换待测芯片方便。 | ||
| 搜索关键词： | 圆盘 芯片 测试 | ||
【主权项】：
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