[实用新型]一种用于集成电路耐高低温测试的装置

摘要

本实用新型公开了一种用于集成电路耐高低温测试的装置，涉及集成电路检测设备技术领域。本实用新型包括：测试箱，测试箱上侧装设有箱盖，测试箱两侧装设有散热装置、限位装置，测试箱内部底侧装设有温变装置本体，测试箱相对两转角之间装设有第一滑杆，测试箱两侧内壁均开设有滑槽，滑槽内滑动配合有两滑块。本实用新型通过设有第一滑杆、第二滑杆、螺纹杆，能够根据检测电路板的大小来进行调节多个定位块之间的距离，使定位块可以对不同大小的集成电路主体进行检测，增加了装置的适用范围，通过设有散热装置、限位装置，可以在不降低检测装置的保温效果的同时，快速使检测装置内部温度恢复到室温，节约检测时间。