[实用新型]一种用于集成电路耐高低温测试的装置

权利要求书

1.一种用于集成电路耐高低温测试的装置，其特征在于，包括：测试箱(1)，测试箱(1)上侧装设有箱盖(2)，测试箱(1)两侧装设有散热装置、限位装置，测试箱(1)内部底侧装设有温变装置本体(3)，测试箱(1)相对两转角之间装设有第一滑杆(10)，测试箱(1)两侧内壁均开设有滑槽(6)，滑槽(6)内滑动配合有两滑块(7)；

测试箱(1)内壁一侧转动配合有螺纹杆(4)，螺纹杆(4)一端穿过测试箱(1)内壁并向外延伸，螺纹杆(4)周侧套设有两螺纹套(5)，螺纹套(5)两侧与两滑块(7)之间均装设有第二滑杆(8)，第二滑杆(8)周侧滑动配合有定位块(9)，定位块(9)下端与第一滑杆(10)滑动配合。

2.如权利要求1所述的一种用于集成电路耐高低温测试的装置，其特征在于，散热装置包括开设在测试箱(1)两侧的通孔(11)，通孔(11)内滑动配合有散热片(12)，散热片(12)两侧装均设有固定板(29)，固定板(29)一侧开设有滑动孔，滑动孔内滑动配合有固定杆(28)，固定杆(28)周侧套设有第一弹簧(27)，且固定杆(28)一端和第一弹簧(27)一端均与测试箱(1)固定连接，散热片(12)一侧装设有挡板(14)，挡板(14)一侧装设有拉把(22)。

3.如权利要求2所述的一种用于集成电路耐高低温测试的装置，其特征在于，限位装置包括开设在散热片(12)一侧的限位槽(13)、开设在通孔(11)一侧的移动槽(18)、开设在测试箱(1)两侧的滑孔(17)，移动槽(18)内滑动配合有限位杆(15)，限位杆(15)一侧装设有与滑孔(17)滑动配合的凸块(16)，限位杆(15)为斜面，限位杆(15)另一端装设有限位板(19)，限位板(19)一侧与移动槽(18)内壁之间装设有第二弹簧(20)。

4.如权利要求1所述的一种用于集成电路耐高低温测试的装置，其特征在于，第一滑杆(10)位于第二滑杆(8)下侧，螺纹杆(4)中部两侧的螺纹方向相反，且螺纹杆(4)与测试箱(1)转动配合，螺纹杆(4)位于测试箱(1)外部的一端装设有转把(21)，两滑槽(6)分别位于螺纹杆(4)两侧。

5.如权利要求1所述的一种用于集成电路耐高低温测试的装置，其特征在于，定位块(9)上侧开设有定位槽，定位槽内装设有检测电路板(30)，检测电路板(30)上侧装设有集成电路主体(31)。

6.如权利要求1所述的一种用于集成电路耐高低温测试的装置，其特征在于，箱盖(2)一侧装设有滑动板(26)，测试箱(1)内壁上侧开设有与滑动板(26)滑动配合的凹槽(25)，箱盖(2)上侧装设有推块(23)，箱盖(2)位于测试箱(1)内部的一侧装设有密封橡胶(24)。