[实用新型]一种自动化芯片测试系统

摘要

本实用新型涉及测试系统技术领域的一种自动化芯片测试系统，包括测试台，所述测试台的顶部固定连接有测试架体,所述测试架体的内顶壁固定连接有固定液压杆,所述固定液压杆的一端固定连接有安装架,所述安装架的侧面固定连接有固定座，所述固定座的内部开设有安装槽，所述安装架的内部开设有内部槽，所述安装槽和内部槽的内部分别滑动连接有活动插销，所述活动插销的内部通过螺纹转动连接有固定螺母。安装架、活动插销、固定螺母和内部槽之间的配合使用，方便工作人员对在使用的时候，产生磨损和损坏的测试器本体进更换使用，从而方便工作人员进行测试，避免由于损坏部分对工作人员的测试进度产生打扰，造成不必要损失。