[发明专利]一种光轴竖直相机的外基准测试方法在审
| 申请号： | 202211737031.6 | 申请日： | 2022-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN116182749A | 公开（公告）日： | 2023-05-30 |
| 发明（设计）人： | 霍腾飞;王小勇;董欣;陈佳夷;李斌;王海超;张超;范龙飞;王东杰;姚立强;刘君航;陈西;孙欣;王聪;徐婧文 | 申请（专利权）人： | 北京空间机电研究所 |
| 主分类号： | G01B11/27 | 分类号： | G01B11/27;G01B11/00;G01C1/02 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 杨春颖 |
| 地址： | 100076 北京市丰*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种光轴竖直相机的外基准测试方法，包括：架设测试系统；测试系统包括：激光跟踪仪、激光跟踪仪控制器、经纬仪、经纬仪控制器、上位机和立方棱镜；通过激光跟踪仪分别采集得到光轴数据和线阵数据，并存储；布置公共转站点，架设激光跟踪仪、经纬仪和立方棱镜；进行组网并统一四台仪器的坐标系；在统一四台仪器的坐标系后，进行光轴测量和线阵方向测量；对各测量数据进行处理，得到外基准测试结果并输出。本发明旨在解决当前光轴水平相机的外基准测量方法不适用于光轴竖直相机光轴指向天空的情况，通过本发明的方法可实现大口径和超大口径光轴竖直相机外基准的高精度测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光轴 竖直 相机 基准 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京空间机电研究所，未经北京空间机电研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202211737031.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
