[发明专利]一种光轴竖直相机的外基准测试方法在审

专利信息
申请号: 202211737031.6 申请日: 2022-12-30
公开(公告)号: CN116182749A 公开(公告)日: 2023-05-30
发明(设计)人: 霍腾飞;王小勇;董欣;陈佳夷;李斌;王海超;张超;范龙飞;王东杰;姚立强;刘君航;陈西;孙欣;王聪;徐婧文 申请(专利权)人: 北京空间机电研究所
主分类号: G01B11/27 分类号: G01B11/27;G01B11/00;G01C1/02
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 杨春颖
地址: 100076 北京市丰*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 光轴 竖直 相机 基准 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种光轴竖直相机的外基准测试方法,其特征在于,包括:

架设测试系统;其中,测试系统,包括:激光跟踪仪、激光跟踪仪控制器、经纬仪、经纬仪控制器、上位机和立方棱镜;

通过激光跟踪仪分别采集得到光轴数据和线阵数据,并存储;

布置公共转站点,架设激光跟踪仪、经纬仪和立方棱镜;

进行组网并统一四台仪器的坐标系;其中,四台仪器是指:两台激光跟踪仪和两台经纬仪;

在统一四台仪器的坐标系后,进行光轴测量和线阵方向测量;

对各测量数据进行处理,得到外基准测试结果并输出。

2.根据权利要求1所述的光轴竖直相机的外基准测试方法,其特征在于,通过激光跟踪仪采集光轴数据并存储,包括:

将主镜组件安装到相机承力板后,在相机主承力板上粘贴靶球座P1~P8,在光轴方向上安装靶球座P9和靶球座P10;将靶球P1~P10分别安装在靶球座P1~P10上;

通过上位机控制激光跟踪仪测量靶球P1~P10,采集得到主镜坐标系下靶球P1~P10的坐标:P1(X1,Y1,Z1)、P2(X2,Y2,Z2)···P8(X8,Y8,Z8)、P9(X9,Y9,Z9)和P10(X10,Y10,Z10);重复采集7次;

上位机接收到采集数据后,计算采集得到的主镜坐标系下靶球P1~P10的坐标的误差,单点重复测量误差小于±0.015mm,最佳拟合误差小于0.06mm,将符合要求的整组数据存储于上位机,文件格式为CSV,文件名为ZJ.CSV。

3.根据权利要求2所述的光轴竖直相机的外基准测试方法,其特征在于,通过激光跟踪仪采集线阵数据并存储,包括:

焦面组件CCD线阵拼接前,在焦面机框上粘贴靶球座P11~P18,在线阵向上安装靶球座P19和靶球座P20;将靶球P11~P20分别安装在靶球座P21~P20上;

通过上位机控制激光跟踪仪测量靶球P11~P18,采集得到线阵坐标系下靶球P11~P18的坐标:P11(X11,Y11,Z11)、P12(X12,Y12,Z12)···P18(X18,Y18,Z18);通过焦面拼接仪采集得到线阵坐标系下靶球P19和靶球P20的坐标:P19(X19,Y19,Z19)和P20(X20,Y20,Z20);重复采集7次;

上位机接收到采集数据后,计算采集得到的线阵坐标系下靶球P10~P20的误差,单点重复测量误差小于±0.015mm,最佳拟合误差小于0.06mm,将符合该要求的整组数据存储于上位机,文件格式为CSV,文件名为JM.CSV。

4.根据权利要求3所述的光轴竖直相机的外基准测试方法,其特征在于,布置公共转站点,包括:在相机最大外包络立方体范围内均布8个公共转站点靶球座,用单组分快速固化胶黏剂,将公共转站点靶球座固定在稳定结构上;将8个公共转站点靶球S1~S8分别安装在8个公共转站点靶球座上;其中,公共转站点靶球S1~S8所在位置即为公共转站点。

5.根据权利要求4所述的光轴竖直相机的外基准测试方法,其特征在于,架设激光跟踪仪、经纬仪和立方棱镜,包括:

将立方棱镜安装于光轴竖直相机主承力板上可观测位置;

将两台经纬仪分别架设在立方棱镜相互垂直的反射面的法线方向;其中,两台经纬仪的架设位置满足:在可同时测得立方棱镜两个相互垂直镜面自准直的基础上,可同时实现两台经纬仪互瞄,可同时测得8个公共转站点靶球S1~S8;经纬仪对瞄路径和观测路径上无物理遮挡;

将两台激光跟踪仪架设于光轴竖直相机周围;其中,激光跟踪仪A的架设位置满足:在可同时测得靶球P1~P10的基础上,可同时测得8个公共转站点靶球S1~S8;激光跟踪仪B的架设位置满足:在可同时测得靶球P11~P20的基础上,可同时测得8个公共转站点靶球,并优先精度误差控制保证靶球P11~P20的测量精度;激光跟踪仪测量射线不存在物理遮挡。

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