[发明专利]蓝牙空口射频性能测试方法与装置、电子设备在审
| 申请号： | 202211682807.9 | 申请日： | 2022-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN115866668A | 公开（公告）日： | 2023-03-28 |
| 发明（设计）人： | 邱勇;樊甜 | 申请（专利权）人： | 深圳市万普拉斯科技有限公司 |
| 主分类号： | H04W24/08 | 分类号： | H04W24/08 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 骆浩华 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种蓝牙空口射频性能测试方法与装置、电子设备，涉及蓝牙测试技术领域；该方法应用于电子设备，电子设备包括蓝牙芯片、处理芯片、充电与数据接口，蓝牙芯片连接于处理芯片，处理芯片连接于充电与数据接口，充电与数据接口用于连接空口射频性能测试平台；该方法包括：建立目标进程中的转发线程，转发线程用于控制处理芯片将充电与数据接口所接收的测试命令转发给蓝牙芯片，测试命令由空口射频性能测试平台发送；响应于测试命令，控制蓝牙芯片按照预设测试指标进行蓝牙空口射频性能测试，从而通过引入处理芯片来在蓝牙芯片与空口射频性能测试平台之间进行命令的中继转发，而无需空口射频性能测试平台与蓝牙芯片建立串口直连通信。 | ||
| 搜索关键词： | 蓝牙 空口 射频 性能 测试 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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