[发明专利]蓝牙空口射频性能测试方法与装置、电子设备

说明书

本申请公开了一种蓝牙空口射频性能测试方法与装置、电子设备，涉及蓝牙测试技术领域；该方法应用于电子设备，电子设备包括蓝牙芯片、处理芯片、充电与数据接口，蓝牙芯片连接于处理芯片，处理芯片连接于充电与数据接口，充电与数据接口用于连接空口射频性能测试平台；该方法包括：建立目标进程中的转发线程，转发线程用于控制处理芯片将充电与数据接口所接收的测试命令转发给蓝牙芯片，测试命令由空口射频性能测试平台发送；响应于测试命令，控制蓝牙芯片按照预设测试指标进行蓝牙空口射频性能测试，从而通过引入处理芯片来在蓝牙芯片与空口射频性能测试平台之间进行命令的中继转发，而无需空口射频性能测试平台与蓝牙芯片建立串口直连通信。

技术领域

本申请涉及蓝牙测试技术领域，具体涉及一种蓝牙空口射频性能测试方法与装置、电子设备。

背景技术

在设备厂商制备出搭载蓝牙(Bluetooth，BT)芯片的电子设备之后，蓝牙芯片的空口射频性能(Over-the-Air Radio Frequency Performance，OTA RF Performance)直接决定了电子设备的蓝牙通信质量，而对蓝牙芯片进行空口射频性能测试是电子设备的整个通信性能测试中比较关键的指标之一。

目前，在对蓝牙芯片的空口射频性能测试方案中，通常是将空口射频性能测试平台直接与蓝牙芯片建立串口直连通信。这样，空口射频性能测试平台就可以直接通过该串口直连通信向蓝牙芯片发送相关的测试命令，以便测试蓝牙芯片的空口射频性能。

然而，这种串口直连通信的方式，可能需要在设计蓝牙芯片的印制电路板(Printed Circuit Board，PCB)时预先留出测试串口管脚，以便空口射频性能测试平台能够直接串口直连该测试串口管脚，有时还可能需要在电子设备的外壳结构上额外打孔以确保串口直连通信线能够穿出。当该测试串口管脚被其他元件占用时，这将使得因无法与空口射频性能测试平台连接而导致无法执行空口射频性能测试。因此，为了避免该测试串口管脚因被其他元件占用而无法执行测试，以及避免在电子设备的外壳结构上额外打孔来保证外观完善，如何进一步执行空口射频性能测试，还需要进一步研究。

发明内容

本申请提供了一种蓝牙空口射频性能测试方法与装置、电子设备，以期望通过引入电子设备中的处理芯片来在蓝牙芯片与空口射频性能测试平台之间进行命令的中继转发，而无需空口射频性能测试平台与蓝牙芯片建立串口直连通信。

第一方面，为本申请的一种蓝牙空口射频性能测试方法，应用于电子设备，所述电子设备包括蓝牙芯片、处理芯片、充电与数据接口，所述蓝牙芯片连接于所述处理芯片，所述处理芯片连接于所述充电与数据接口，所述充电与数据接口用于连接空口射频性能测试平台；所述方法包括：

建立目标进程中的转发线程，所述转发线程用于控制所述处理芯片将所述充电与数据接口所接收的测试命令转发给所述蓝牙芯片，所述测试命令由所述空口射频性能测试平台发送；

响应于所述测试命令，控制所述蓝牙芯片按照预设测试指标进行蓝牙空口射频性能测试。

可见，本申请可以建立目标进程中的转发线程，并通过转发线程来控制处理芯片在蓝牙芯片与空口射频性能测试平台之间进行命令的中继转发，而无需空口射频性能测试平台与蓝牙芯片建立串口直连通信。

另外，本申请直接利用电子设备自身的充电与数据接口来与空口射频性能测试平台进行连接，使得充电与数据接口来接收测试命令，再发送给处理芯片，最后由处理芯片将测试命令转发给蓝牙芯片，从而有利于避免在电子设备的外壳结构上额外打孔来保证外观完善。

第二方面，为本申请的一种蓝牙空口射频性能测试装置，应用于电子设备，所述电子设备包括蓝牙芯片、处理芯片、充电与数据接口，所述蓝牙芯片连接于所述处理芯片，所述处理芯片连接于所述充电与数据接口，所述充电与数据接口用于连接空口射频性能测试平台；所述装置包括：