[发明专利]一种计及多污秽影响下棒形瓷绝缘子的老化特性评估方法在审
| 申请号： | 202211598998.0 | 申请日： | 2022-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN116008691A | 公开（公告）日： | 2023-04-25 |
| 发明（设计）人： | 王东阳;符安志;闵希瑶;黄林 | 申请（专利权）人： | 西南交通大学 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/12;G16C60/00 |
| 代理公司： | 武汉聚信汇智知识产权代理有限公司 42258 | 代理人： | 马尚伟 |
| 地址： | 611756 四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种计及多污秽影响下棒形瓷绝缘子的老化特性评估方法，其特征在于搭建了一种计及多污秽影响下棒形瓷绝缘子的老化特性测试平台，基于测试平台，针对棒形瓷绝缘子的多污秽环境进行模拟，并开展操作过电压冲击试验；计算棒形瓷绝缘子的最高电压参量理论计算值；基于棒形瓷绝缘子的最高电压参量的理论计算值与实测值，采用粒子群优化算法进行优化建模，得到优化后的棒形瓷绝缘子的最高电压参量，并计算棒形瓷绝缘子的老化评估因子；最后根据老化评估因子进行棒形瓷绝缘子老化特征评估。本发明可以有效模拟棒形瓷绝缘子的多污秽环境，通过操作过电压试验，可解析化评估多污秽影响下棒形瓷绝缘子的老化特性，并提出检修意见，提高电力系统可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 污秽 影响 下棒形瓷 绝缘子 老化 特性 评估 方法 | ||
【主权项】：
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