[发明专利]一种圆形磁芯侧面缺陷检测装置及其方法有效
| 申请号： | 202211594553.5 | 申请日： | 2022-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN115615998B | 公开（公告）日： | 2023-04-07 |
| 发明（设计）人： | 王宪保;翁扬凯;左春云;吴帅杰;彭桂芳;姚明海 | 申请（专利权）人： | 浙江工业大学 |
| 主分类号： | G01N21/892 | 分类号： | G01N21/892 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人： | 贾玉霞 |
| 地址： | 310014 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种圆形磁芯侧面缺陷检测装置，包括传送带、固定组件、检测组件；传送带沿固定方向运动，待测磁芯放置在传送带上，待测磁芯由多个圆形磁芯叠加而成，且其轴线与传送带的运动方向垂直；固定组件用于对待测磁芯进行限位，使待测磁芯位于设定的检测区域内，且待测磁芯仅能在传送带的作用下绕待测磁芯的轴线旋转；检测组件用于对待测磁芯的侧面进行图像采样；传送带、固定组件、检测组件相配合，获得待测磁芯完整的侧面图像。圆形磁芯侧面缺陷检测方法使用圆形磁芯侧面缺陷检测装置，通过图像处理技术完成对圆形磁芯侧面缺陷的检测。本发明能检测圆形磁芯的完整圆周侧面，同时能完成多个圆形磁芯的缺陷检测任务。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 圆形 侧面 缺陷 检测 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
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