[发明专利]一种压片法-X射线光谱测定钼含量的方法在审
| 申请号： | 202211568754.8 | 申请日： | 2022-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN115901826A | 公开（公告）日： | 2023-04-04 |
| 发明（设计）人： | 苏智鸿;陈增民;邱小敏;曹爱里;王凌翌;吴梅发 | 申请（专利权）人： | 福建马坑矿业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/2202 | 分类号： | G01N23/2202;G01N23/223 |
| 代理公司： | 厦门市新华专利商标代理有限公司 35203 | 代理人： | 朱凌 |
| 地址： | 364000 福*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种压片法‑X射线荧光光谱测定钼含量的方法，具有准确度高、精密度好、检出限低、流程简便高效的特点，可以很好地满足基体组成复杂的钼矿石样品快速定量分析的要求，同时提高了钼含量检测的准确性，钼矿石分析数据标准偏差小于1％。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 压片 射线 光谱 测定 含量 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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