[发明专利]锗硅光电探测器在审
申请号: | 202211535654.5 | 申请日: | 2022-12-02 |
公开(公告)号: | CN115832095A | 公开(公告)日: | 2023-03-21 |
发明(设计)人: | 娄雪勤;郝沁汾 | 申请(专利权)人: | 无锡芯光互连技术研究院有限公司 |
主分类号: | H01L31/105 | 分类号: | H01L31/105;H01L31/0224 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 214000 江苏省无锡*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种锗硅光电探测器,涉及光电探测器领域,其技术方案要点是:包括自下而上依次堆叠的硅衬底层,二氧化硅埋氧层,波导层,锗吸收层,其特征在于,波导层包括依次连接的第一波导区、第二波导区和第三波导区,第三波导区包括P型轻掺杂区和P型重掺杂区,锗吸收层的上方设置有第一条形电极,使第一条形电极位于锗吸收层在宽度方向上的中间并远离第一波导区;P型重掺杂区的上方设置有第二条形电极,使第二条形电极位于P型重掺杂区在宽度方向上的的中间并远离第一波导区。其特点是减小与吸收层接触的金属电极的长度,通过合理设置与吸收层接触的金属电极的位置,使耦合到锗吸收层的光场分布更均匀。 | ||
搜索关键词: | 光电 探测器 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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