[发明专利]用于基于光谱测量来预测样品特性的系统和方法在审
| 申请号： | 202211533080.8 | 申请日： | 2022-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN116297281A | 公开（公告）日： | 2023-06-23 |
| 发明（设计）人： | A·尼默勒 | 申请（专利权）人： | 布鲁克光谱仪器公司 |
| 主分类号： | G01N21/35 | 分类号： | G01N21/35;G01N21/359;G06F18/2413;G06F17/14;G06F17/18;G06F18/214 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 徐东升 |
| 地址： | 德国埃*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开了一种用于基于从特定样品类型的样品获得的NIR/MIR光谱预测样品的特性值的系统、方法和计算机程序产品。将小波变换应用于所获得的光谱以计算多个小波带中的小波系数的样品集。系统访问具有定义校准系数空间的小波系数的多个校准集的文库。校准集是通过从至少特定样品类型的校准样品获得的相应NIR/MIR光谱的小波变换来计算的。每个校准集与相应校准样品的一个或多个参考特性值相关联。系统通过在校准系数空间中选择样品集的预定数量k个最近邻来创建样品的待确定特性值的局部PLS模型，并且基于所选择的k个最近邻及其相关联的参考特性值来计算局部PLS模型。通过将局部PLS模型应用于样品集来预测样品的特性值。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 基于 光谱 测量 预测 样品 特性 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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