[发明专利]一种芯片量产测试的PD协议测试系统及其方法有效
| 申请号： | 202211518835.7 | 申请日： | 2022-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN115856573B | 公开（公告）日： | 2023-10-03 |
| 发明（设计）人： | 赵洋;王庚;叶俊雄 | 申请（专利权）人： | 珠海英集芯半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 杨振鹏 |
| 地址： | 519000 广东省珠海*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种芯片量产测试的PD协议测试系统及其方法，该系统包括供电模块、开关模块、快充识别及控制单元、多路复用器以及测试机模块，开关模块用于在测试过程中控制快充识别及控制单元的电源通断，快充识别及控制单元的CC通信通道通过多路复用器与被测芯片的CC1/CC2引脚实现切换连接，用于完成PD通信测试，并在测试完成后反馈测试结果给测试机模块，测试机模块用于提供测试机的资源通道，与快充识别及控制单元配合完成被测芯片的PD通信测试，还用于对快充识别及控制单元进行电源供给控制通断，以及对快充识别及控制单元提供的测试结果进行收集及判断。应用本发明可以加快现有PD协议芯片的量产测试开发进度、节省成本及降低量产测试时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 量产 测试 pd 协议 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
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