[发明专利]一种基于光干涉的主轴旋转偏离情况测量装置在审
| 申请号： | 202211468563.4 | 申请日： | 2022-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN115790374A | 公开（公告）日： | 2023-03-14 |
| 发明（设计）人： | 林澎;孙荣敏;丁伟;潘宇倩;张宏献;王文军;冯树强;钟礼君;孙颖;于祥昱;常志鹏 | 申请（专利权）人： | 柳州工学院 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B11/26;G01B11/02 |
| 代理公司： | 广西中知华誉知识产权代理有限公司 45140 | 代理人： | 白立鸿 |
| 地址： | 545616 广西壮*** | 国省代码： | 广西;45 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于光干涉的主轴旋转偏离情况测量装置，包括转角测量组件、位移测量组件、俯仰角测量组件及姿态检测光干涉模组，转角测量组件包括固定座、旋转座及转角测量光干涉模组，旋转座与固定座转动连接；转角测量光干涉模组设于旋转座上以测量旋转座的转动角度；位移测量组件包括移动座及位移测量光干涉模组，移动座滑动地设于旋转座上，位移测量光干涉模组设于旋转座及移动座上，以测量移动座的位移；俯仰角测量组件包括俯仰座及俯仰角测量光干涉模组，俯仰座转动地装设于移动座上，俯仰角测量光干涉模组装设在移动座及俯仰座上，以测量俯仰座的摆动角度；姿态检测光干涉模组装设于俯仰座上。其能够提高对主轴旋转偏离情况测量的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 干涉 主轴 旋转 偏离 情况 测量 装置 | ||
【主权项】：
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