[发明专利]二次电池的不良检测方法及装置在审

专利信息
申请号: 202211463312.7 申请日: 2022-11-21
公开(公告)号: CN116203444A 公开(公告)日: 2023-06-02
发明(设计)人: 柳志宪;柳晟泰;洪永珍 申请(专利权)人: 旻泰克科技股份有限公司
主分类号: G01R31/389 分类号: G01R31/389;G01R31/378
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 罗松梅;李敬文
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明公开利用交流阻抗法检测二次电池的不良的方法及实现该方法的装置。本发明的方法包括如下步骤:以调制频率的方式向二次电池施加输入信号来测定输出信号,从输入信号和输出信号算出基于频率的交流阻抗;将所算出的交流阻抗形成为奈奎斯特图,并基于此来构建等效电路模型;在等效电路模型中,将电荷转移电阻成分和电双层电容成分的乘积作为时间常数算出,或者在奈奎斯特图中,算出呈现在低频带的直线的斜率;比较时间常数和预设时间常数,或者比较所算出的直线的斜率的绝对值与预设斜率的绝对值;以及在时间常数小于预设时间常数或者所算出的直线的斜率的绝对值小于预设斜率的绝对值的情况下,将二次电池判断为不良。
搜索关键词: 二次 电池 不良 检测 方法 装置
【主权项】:
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