[发明专利]二次电池的不良检测方法及装置在审
申请号: | 202211463312.7 | 申请日: | 2022-11-21 |
公开(公告)号: | CN116203444A | 公开(公告)日: | 2023-06-02 |
发明(设计)人: | 柳志宪;柳晟泰;洪永珍 | 申请(专利权)人: | 旻泰克科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/389 | 分类号: | G01R31/389;G01R31/378 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 罗松梅;李敬文 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 二次 电池 不良 检测 方法 装置 | ||
1.一种利用交流阻抗法的二次电池的不良检测方法,其特征在于,包括如下步骤:
以调制频率的方式向二次电池施加输入信号来测定输出信号,从上述输入信号和输出信号算出基于频率的交流阻抗;
将所算出的上述交流阻抗形成为奈奎斯特图,并基于此来构建等效电路模型;
在上述等效电路模型中,将电荷转移电阻成分(Rct)和电双层电容成分(Cdl)的乘积作为时间常数算出;
比较上述时间常数和预设时间常数;以及
在上述时间常数小于上述预设时间常数的情况下,将上述二次电池判断为不良。
2.一种利用交流阻抗法的二次电池的不良检测方法,其特征在于,包括如下步骤:
以调制频率的方式向二次电池施加输入信号来测定输出信号,从上述输入信号和输出信号算出基于频率的交流阻抗;
将所算出的上述交流阻抗形成为奈奎斯特图,并基于此来构建等效电路模型;
在上述奈奎斯特图中,算出呈现在低频带的直线的斜率;
比较所算出的上述直线的斜率的绝对值与预设斜率的绝对值;以及
在所计算的上述直线的斜率的绝对值小于上述预设斜率的绝对值的情况下,将上述二次电池判断为不良。
3.根据权利要求1或2所述的利用交流阻抗法的二次电池的不良检测方法,其特征在于,算出上述交流阻抗的步骤包括如下步骤:
使用交流电压来作为上述输入信号,通过上述输出信号测定交流电流;以及
将上述输入信号除以上述输出信号来算出上述交流阻抗。
4.根据权利要求1或2所述的利用交流阻抗法的二次电池的不良检测方法,其特征在于,算出上述交流阻抗的步骤包括如下步骤:
使用交流电流来作为上述输入信号,通过上述输出信号测定交流电压;以及
将上述输出信号除以上述输入信号来算出上述交流阻抗。
5.根据权利要求1或2所述的利用交流阻抗法的二次电池的不良检测方法,其特征在于,上述等效电路模型包括:
电感(L),
二次电池电解液的电阻(RS),
RC并联电路1的薄膜电阻(Rf1),
RC并联电路1的薄膜电容(Cf1),
RC并联电路n的薄膜电阻(Rfn),
RC并联电路n的薄膜电容(Cfn),
电荷转移电阻(Rct),
电双层电容(Cdl),和
沃伯格阻抗(Zw),
并且,n为1至4的整数。
6.根据权利要求1或2所述的利用交流阻抗法的二次电池的不良检测方法,其特征在于,上述等效电路模型包括:
二次电池电解液的电阻(RS),
RC并联电路1的薄膜电阻(Rf1),
RC并联电路1的薄膜电容(Cf1),
RC并联电路n的薄膜电阻(Rfn),
RC并联电路n的薄膜电容(Cfn),
电荷转移电阻(Rct),
电双层电容(Cdl),和
沃伯格阻抗(Zw),
并且,n为1至4的整数。
7.根据权利要求5所述的利用交流阻抗法的二次电池的不良检测方法,其特征在于,在算出呈现在上述低频带的直线的斜率的步骤中,上述低频带为大于0Hz且1Hz以下的频带。
8.根据权利要求1或2所述的利用交流阻抗法的二次电池的不良检测方法,其特征在于,在算出上述交流阻抗的步骤中,向上述二次电池施加的输入信号的频率调制范围的上限为10Hz至100MHz,下限为0.05Hz至0.001Hz。
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