[发明专利]波形数据的重采样方法、装置、功能模块及重采样系统在审

专利信息
申请号: 202211401281.2 申请日: 2022-11-09
公开(公告)号: CN115617787A 公开(公告)日: 2023-01-17
发明(设计)人: 季尔优;周磊 申请(专利权)人: 苏州迅芯微电子有限公司
主分类号: G06F16/215 分类号: G06F16/215
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 赵迎迎
地址: 215121 江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试验区苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种波形数据的重采样方法、装置、功能模块及重采样系统。波形数据的重采样方法,包括:使用目标波形采样数据初始化跳变点检测数据,并在跳变点检测数据中识别跳变采样点;使用当前插值算法在跳变采样点和跳变采样点前一相邻采样点间进行插值处理;使用插值数据更新跳变点检测数据后,返回执行识别跳变采样点的操作,直至完成预设次数的插值算法的使用;根据插值算法集中各插值算法在插值处理前记录的插值位置进行重采样处理,得到待处理通道的重采样数据;根据重采样数据进行数据波形恢复,得到待存储数据,并对待存储数据进行存储。本发明实施例的技术方案能够极大的提高波形数据的采样精度,满足数据精度要求较高的场合。
搜索关键词: 波形 数据 采样 方法 装置 功能模块 采样系统
【主权项】:
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