[发明专利]波形数据的重采样方法、装置、功能模块及重采样系统

说明书

本发明公开了一种波形数据的重采样方法、装置、功能模块及重采样系统。波形数据的重采样方法，包括：使用目标波形采样数据初始化跳变点检测数据，并在跳变点检测数据中识别跳变采样点；使用当前插值算法在跳变采样点和跳变采样点前一相邻采样点间进行插值处理；使用插值数据更新跳变点检测数据后，返回执行识别跳变采样点的操作，直至完成预设次数的插值算法的使用；根据插值算法集中各插值算法在插值处理前记录的插值位置进行重采样处理，得到待处理通道的重采样数据；根据重采样数据进行数据波形恢复，得到待存储数据，并对待存储数据进行存储。本发明实施例的技术方案能够极大的提高波形数据的采样精度，满足数据精度要求较高的场合。

技术领域

本发明涉及通信技术领域，尤其涉及一种波形数据的重采样方法、装置、功能模块及重采样系统。

背景技术

随着科学技术的发展，测量作为人类科技发展的重要基石，在科学研究探索的过程中一直是必不可少的一环。

在进行数据采集的过程中，对数据采集的精度受限于很多因素，比如模数转换器的采样率以及被采样信号的频率大小等，使得测量误差会比较大，为了提高精度，大多会对数据进行插值处理，在传统的重采样的操作中，虽然可以将重采样的精度提高，但是仍无法满足精度要求较高的场合。

发明内容

本发明提供了一种波形数据的重采样方法、装置、功能模块及重采样系统，能够极大的提高波形数据的采样精度，满足数据精度要求较高的场合。

根据本发明的一方面，提供了一种波形数据的重采样方法，包括：

在多个通道采集的波形采集数据中，获取目标通道的目标波形采样数据；

使用目标波形采样数据初始化跳变点检测数据，并在跳变点检测数据中识别跳变采样点；

在插值算法集中获取当前插值算法，并使用当前插值算法在每个跳变采样点和跳变采样点的前一相邻采样点间进行插值处理；

使用插值数据更新跳变点检测数据后，返回执行在跳变点检测数据中识别跳变采样点的操作，直至完成预设次数的插值算法的使用；

根据插值算法集中各插值算法在插值处理前记录的插值位置，对待处理通道的波形采样数据进行重采样处理，得到待处理通道的重采样数据；

根据待处理通道的重采样数据进行数据波形恢复处理，得到待存储数据，并按照预设恢复数据个数对待存储数据进行存储。

在不同实施方式中，待处理通道包括目标通道，或者不包括目标通道。在进行多路通道重采样处理时，与目标通道关联的跳变点检测数据进行插值处理时，使用的各插值算法在插值处理前记录的插值位置作为其他多路通道的触发信号，以使其他多路通道采集波形数据。需要说明的是，使用的各插值算法在插值处理前记录的插值位置，还可以作为目标通道的触发信号，具体随实际需要而定，并无限定。

可选的，在多个通道采集的波形采集数据中，获取目标通道的目标波形采样数据，包括：获取目标通道中目标数据位数的当前波形采样数据，并获取当前波形采样数据前序目标数据位数的第一波形采样数据，以及后续目标数据位数的第二波形采样数据；根据当前波形采样数据、第一波形采样数据的以及第二波形采样数据，确定目标波形采样数据。

为了避免跳变采样点的位置位于数据首位或者数据末位，选择将三个目标数据位数的数据拼接起来，拼成目标波形采样数据，对目标波形采样数据进行跳变采样点识别。

可选的，在所述跳变点检测数据中识别跳变采样点，包括：设置初始目标待比较数据；根据所述跳变点检测数据的数据顺序，将所述跳变点检测数据划分为多个待检测数据组，并确定各待检测数据组中的跳变点第一检测数据以及跳变点第二检测数据；分别将各待检测数据组中的跳变点第一检测数据以及跳变点第二检测数据与所述初始目标待比较数据进行比较，确定跳变点采样数据。其中，初始目标待比较数据设置为0或特定数值。跳变采样点为负数或者正数。