[发明专利]基于GRU神经网络的IGBT模块寿命预测模型的构建方法在审
申请号: | 202211380833.6 | 申请日: | 2022-11-04 |
公开(公告)号: | CN115600502A | 公开(公告)日: | 2023-01-13 |
发明(设计)人: | 李新宇;孟子民 | 申请(专利权)人: | 合肥工业大学 |
主分类号: | G06F30/27 | 分类号: | G06F30/27;G06N3/04;G06N3/08;G06F119/04 |
代理公司: | 合肥市泽信专利代理事务所(普通合伙) 34144 | 代理人: | 江楠竹 |
地址: | 230009 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明涉及功率半导体器件中IGBT模块的可靠性分析技术领域,公开了涉及基于GRU神经网络的IGBT模块寿命预测模型的构建方法、使用该构建方法构建出的最优参数的IGBT模块寿命预测模型、以及使用该预测模型对IGBT模块寿命进行预测的方法。本发明从IGBT模块的老化特征量出发,提出一种基于GRU神经网络的寿命预测模型的构建方法。本发明设计合理,在进行模型构建时,对GRU神经网络寿命预测模型采用网格搜索法进行参数调优,改善了对循环神经网络超参数选取过于随机,或仅对已有参考神经网络参数进行微调的问题,所提出的最优参数的GRU神经网络寿命预测模型预测精度更高,在IGBT模块的寿命预测问题上有更好的适配性。 | ||
搜索关键词: | 基于 gru 神经网络 igbt 模块 寿命 预测 模型 构建 方法 | ||
【主权项】:
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