[发明专利]一种基于面形数据的谐振陀螺微米级间隙检测方法在审
| 申请号： | 202211354440.8 | 申请日： | 2022-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN115683024A | 公开（公告）日： | 2023-02-03 |
| 发明（设计）人： | 吴伟;贾永雷;潘瑶;刘芬;谭中奇;杨开勇;罗晖 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军国防科技大学 |
| 主分类号： | G01B21/16 | 分类号： | G01B21/16;G01B11/14;G01C25/00 |
| 代理公司： | 国防科技大学专利服务中心 43202 | 代理人： | 刘芳 |
| 地址： | 410073 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于面形数据的谐振陀螺微米级间隙检测方法，包括：S1、预定义谐振子A面、谐振子D面、平板电极B面和平板电极C面；S2、在谐振子和平板电极装配前，对谐振子和所述平板电极的尺寸数据进行测量并保存在数据库中；S3、在谐振子和平板电极装配过程中，对谐振子和平板电极端面面形及其位置误差进行实时检测，得到平板电极B面的面形数据、谐振子A面的面形数据以及A‑B面之间的位置误差；S4、根据谐振子和平板电极的编号，在数据库中查找到该平板电极B面和C面、谐振子A面和D面的面形数据及其位置误差；S5、通过预设的计算方法得到C‑D面的位置误差，即谐振陀螺的唇沿间隙。本发明易于实现，对检测传感器安装的位置误差不敏感。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 形数 谐振 陀螺 微米 间隙 检测 方法 | ||
【主权项】：
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