[发明专利]基于栅极调控的硅纳米线阵列式加速度计及其加工工艺在审

专利信息
申请号: 202211339653.3 申请日: 2022-10-26
公开(公告)号: CN115650153A 公开(公告)日: 2023-01-31
发明(设计)人: 杨勋;郑驰霖;刘超然;郭礼康 申请(专利权)人: 西华师范大学
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00;G01P15/09
代理公司: 浙江永鼎律师事务所 33233 代理人: 周希良
地址: 637001 *** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明涉及基于栅极调控的硅纳米线阵列式加速度计及其加工工艺。硅纳米线阵列式加速度计包括硅纳米线阵列、氮化硅薄膜、质量块、金电极、栅极和硅基底。当加速度计受到外界的加速度作用时,质量块位移会使得硅纳米线发生形变,硅纳米线形变会导致电导发生变化,进而输出变化的信号;同时,栅极能够调制硅纳米线阵列沟道,进而寻找出器件的最佳工作点。另外,本发明工艺简单、成本低廉。
搜索关键词: 基于 栅极 调控 纳米 阵列 加速度计 及其 加工 工艺
【主权项】:
暂无信息
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