[发明专利]一种基于智能手机物理层测量的电磁暴露预测方法在审
| 申请号： | 202211312809.9 | 申请日： | 2022-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN115865233A | 公开（公告）日： | 2023-03-28 |
| 发明（设计）人： | 杨万春;许达礼;周丽 | 申请（专利权）人： | 湘潭大学 |
| 主分类号： | H04B17/309 | 分类号： | H04B17/309;H04B17/318;H04W24/08 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 411105 *** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种基于智能手机物理层测量的电磁暴露预测方法。该方法通过对用户使用手机的接收信号强度指示和参考信号接收功率进行测量，通过测量选择两个量之间比值最小的量，从而确定基站空闲模式下接收信号强度指示与参考信号接收功率的比值，利用基站空闲模式下接收信号强度指示与参考信号接收功率的比值确定功率修因子，根据功率修正因子，预测基站平均电磁暴露强度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 智能手机 物理层 测量 电磁 暴露 预测 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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