[发明专利]基于下行光传感器的太阳光谱辐射校正方法及相关设备在审
| 申请号： | 202211291337.3 | 申请日： | 2022-10-20 |
| 公开（公告）号： | CN115641274A | 公开（公告）日： | 2023-01-24 |
| 发明（设计）人： | 请求不公布姓名 | 申请（专利权）人： | 深圳市中达瑞和科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T5/00 | 分类号： | G06T5/00;G06T7/80 |
| 代理公司： | 深圳君信诚知识产权代理事务所(普通合伙) 44636 | 代理人： | 刘伟 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区西丽*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明属于太阳光谱辐射校正技术领域，提供了一种基于下行光传感器的太阳光谱辐射校正方法及相关设备，所述方法包括：建立以下行光传感器采集的光强值与下行光传感器相对太阳方向的旋转角、下行光传感器相对太阳方向的倾斜角、太阳光强以及环境光为关联参数的光强值模型；获取下行光传感器采集的一组实际数据，并根据实际数据对光强值模型进行标定，得到光强值模型的待定参数值；将实际数据与待定参数值代入光强值模型，并采用最小二乘法对光强值模型求解，得到关联参数最优解；利用带入了关联参数最优解的光强值模型对下行光传感器采集的光强值进行校正，输出校正光强值。本发明通过光强值的校正保证了物质光谱识别的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 下行 传感器 太阳 光谱 辐射 校正 方法 相关 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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