[发明专利]基于下行光传感器的太阳光谱辐射校正方法及相关设备

权利要求书

1.一种基于下行光传感器的太阳光谱辐射校正方法，其特征在于，所述太阳光谱辐射校正方法包括以下步骤：

建立以下行光传感器采集的光强值与所述下行光传感器相对太阳方向的旋转角、所述下行光传感器相对太阳方向的倾斜角、太阳光强以及环境光为关联参数的光强值模型；

获取所述下行光传感器采集的一组实际数据，并根据所述实际数据对所述光强值模型进行标定，得到所述光强值模型的待定参数值；

将所述实际数据与所述待定参数值代入所述光强值模型，并采用最小二乘法对所述光强值模型求解，得到关联参数最优解；

利用带入了所述关联参数最优解的所述光强值模型对所述下行光传感器采集的所述光强值进行校正，输出校正光强值。

2.如权利要求1所述的基于下行光传感器的太阳光谱辐射校正方法，其特征在于，定义所述下行光传感器采集的所述光强值为y，所述下行光传感器相对太阳方向的所述旋转角为α、所述下行光传感器相对太阳方向的所述倾斜角为β，所述太阳光强为e，所述环境光为b，所述待定参数值为P，其中，所述旋转角α与所述倾斜角β之间具有角度函数关系g，所述光强值模型满足以下关系式(1)：

y＝f(α,β,e,b)＝e·g(α,β|P)+b (1)。

3.如权利要求2所述的基于下行光传感器的太阳光谱辐射校正方法，其特征在于，所述旋转角α与所述倾斜角β互为余弦关系，所述角度函数关系g满足以下关系式(2)：

g(α,β|P)＝cos(α+p₁)+cos(β+p₂) (2)；

关系式(2)中，p₁、p₂为所述待定参数值P分解后的常数。

4.如权利要求1所述的基于下行光传感器的太阳光谱辐射校正方法，其特征在于，根据所述实际数据对所述光强值模型进行标定所使用的方法为曲线拟合法。

5.如权利要求3所述的基于下行光传感器的太阳光谱辐射校正方法，其特征在于，利用带入了所述关联参数最优解的所述光强值模型对所述下行光传感器采集的所述光强值进行校正的步骤中，将所述旋转角α取值为0°，所述倾斜角β取值为90°。

6.如权利要求5所述的基于下行光传感器的太阳光谱辐射校正方法，其特征在于，定义所述关联参数最优解中：所述太阳光强的最优解为所述环境光的最优解为所述校正光强值为y_adj，所述校正光强值y_adj满足以下关系式(3)：

7.如权利要求1所述的基于下行光传感器的太阳光谱辐射校正方法，其特征在于，所述下行光传感器为三路下行光传感器，根据所述光强值计算所述校正光强值时，以18个所述光强值为一组数据进行计算。

8.一种基于下行光传感器的太阳光谱辐射校正系统，其特征在于，包括：

建模模块，用于建立以下行光传感器采集的光强值与所述下行光传感器相对太阳方向的旋转角、所述下行光传感器相对太阳方向的倾斜角、太阳光强以及环境光为关联参数的光强值模型；

标定模块，用于获取所述下行光传感器采集的一组实际数据，并根据所述实际数据对所述光强值模型进行标定，得到所述光强值模型的待定参数值；

求解模块，用于将所述实际数据与所述待定参数值代入所述光强值模型，并采用最小二乘法对所述光强值模型求解，得到关联参数最优解；

校正模块，用于利用带入了所述关联参数最优解的所述光强值模型对所述下行光传感器采集的所述光强值进行校正，输出校正光强值。

9.一种计算机设备，其特征在于，包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7中任意一项所述的基于下行光传感器的太阳光谱辐射校正方法中的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任意一项所述的基于下行光传感器的太阳光谱辐射校正方法中的步骤。