[发明专利]一种计数器及锁存器阵列的测试系统在审
| 申请号： | 202211234815.7 | 申请日： | 2022-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN115695778A | 公开（公告）日： | 2023-02-03 |
| 发明（设计）人： | 请求不公布姓名 | 申请（专利权）人： | 创视微电子（成都）有限公司 |
| 主分类号： | H04N17/00 | 分类号： | H04N17/00;H04N25/76;H04N25/77 |
| 代理公司： | 成都行之智信知识产权代理有限公司 51256 | 代理人： | 何筱茂 |
| 地址： | 610000 四川省成都市中国(四川)*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种计数器及锁存器阵列的测试系统，包括：输入模块，用于为测试人员提供输入测试值和期待值的接口，并将测试值发送给测试信号生成模块，将期待值发送给判定模块；信号生成模块，用于将测试值转换为测试值设定信号，同时接收来自锁相环的高速时钟信号，并根据测试值设定信号和所述高速时钟信号输出时钟个数控制信号；计数器及锁存器阵列，用于根据时钟个数控制信号进行计数，并根据计数值进行逻辑运算，将逻辑运算结果发送至判定模块；判定模块，用于对所述逻辑运算结果与所述期待值进行一致性判断，输出判定结果。本系统可实现对计数器及锁存器阵列的功能及性能完备性测试，达到对计数器及锁存器运算阵列的网罗性测试目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 计数器 锁存器 阵列 测试 系统 | ||
【主权项】：
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