[发明专利]一种计算芯片测试方法、系统、计算机设备和存储介质在审
| 申请号： | 202211216491.4 | 申请日： | 2022-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN115658400A | 公开（公告）日： | 2023-01-31 |
| 发明（设计）人： | 辛明勇;徐长宝;金学军;刘卓毅;高吉普;王宇;习伟;姚浩;何雨旻;陈军健;刘德宏;祝健杨;冯起辉;张历;申彧 | 申请（专利权）人： | 贵州电网有限责任公司;南方电网数字电网研究院有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 南京禹为知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32272 | 代理人： | 褚晓英 |
| 地址： | 550002 贵*** | 国省代码： | 贵州;52 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种计算芯片测试方法、系统、计算机设备和存储介质，方法包括：获取目标芯片的运行数据，并根据所述运行数据进行故障运行风险的预测，以及生成相应的预测结果数据；根据所述预测结果数据，判定目标芯片是否存在故障运行风险，若存在风险，则判定目标芯片对应风险等级，确定与所述风险等级相适应的目标测试方式；获取目标芯片在所述目标测试方式下同步产生的测试结果数据，并根据所述测试结果数据，生成相应的修复决策；本发明在芯片运行的同时，能够实现对运行风险的及时把控，提高芯片测试全面性。能够实现芯片故障的智能诊断与修复，提升故障诊断与修复效率以及自动化程度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 计算 芯片 测试 方法 系统 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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