[发明专利]一种外设设备测试的方法、装置、电子设备以及存储介质在审
| 申请号： | 202211214620.6 | 申请日： | 2022-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN115525493A | 公开（公告）日： | 2022-12-27 |
| 发明（设计）人： | 李长治 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人： | 苏培华 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市吴*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种外设设备测试的方法、装置、电子设备以及存储介质，通过接收针对外设设备的测试指令，基于测试指令，通过屏蔽设备屏蔽外设设备的接口组件中的至少一个接口，识别外设设备，得到外设设备的识别信息，将识别信息发送至测试计算机，测试计算机用于根据识别信息，确定外设设备的测试结果，从而实现了PCI总线容错测试的全自动化，满足了PCI总线容错中模拟信号中断以验证PCI容错能力的自动化需求。避免模式变更过程中服务器断电后配置的操作，更加真实地模拟了异常情况。全自动测试流程，极大减少了测试人员的时间投入，通过串口扩展，可以实现同时对多台设备的PCI总线容错测试，提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 外设 设备 测试 方法 装置 电子设备 以及 存储 介质 | ||
【主权项】：
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