[发明专利]一种外设设备测试的方法、装置、电子设备以及存储介质

说明书

本发明实施例提供了一种外设设备测试的方法、装置、电子设备以及存储介质，通过接收针对外设设备的测试指令，基于测试指令，通过屏蔽设备屏蔽外设设备的接口组件中的至少一个接口，识别外设设备，得到外设设备的识别信息，将识别信息发送至测试计算机，测试计算机用于根据识别信息，确定外设设备的测试结果，从而实现了PCI总线容错测试的全自动化，满足了PCI总线容错中模拟信号中断以验证PCI容错能力的自动化需求。避免模式变更过程中服务器断电后配置的操作，更加真实地模拟了异常情况。全自动测试流程，极大减少了测试人员的时间投入，通过串口扩展，可以实现同时对多台设备的PCI总线容错测试，提高了测试效率。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，特别是涉及一种外设设备测试的方法、装置、电子设备以及存储介质。

背景技术

PCI(Peripheral Component Interconnect，外设部件互连标准)总线是Intel公司推出的一种高性能局部总线，PCI设备所具有的配置空间以及PCI总线通过桥接电路与微处理器相连的技术，使得PCI总线具有广泛的适应性；而且PCI总线采用宽字节和高达66Mb/Sec的时钟频率以及主控方式传输来满足高速设备的要求。因此,PCI总线可同时支持多个外围设备，例如显卡、声卡、网卡、内置ADSL、USB卡、IDE适配卡、电视卡、视频采集卡以及其它种类繁多的外围卡。

现有的PCI总线容错功能测试技术，一般采用手动方式破坏链路传输的稳定性，常见的方式为采用屏蔽条或胶带等绝缘物品黏贴在网卡等PCI设备的金手指接口上，阻断其对应接口的信息传递。由于PCI总线传输协议的规定，PCI将会按照降级规则对卡进行识别。在降级识别状态下，对应PCI设备能够完成一部分工作，但无法充分发挥其全部性能。

发明内容

鉴于上述问题，提出了本发明实施例以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种外设设备测试的方法、装置、电子设备以及存储介质。

为了解决上述问题，本发明实施例公开了一种外设设备测试的方法，待测服务器包括外设设备，所述外设设备设置有接口组件，所述外设设备与屏蔽设备连接，所述屏蔽设备与测试计算机连接，所述待测服务器与所述测试计算机连接，所述方法应用于待测服务器，包括：

接收针对所述外设设备的测试指令；

基于所述测试指令，通过所述屏蔽设备屏蔽所述外设设备的接口组件中的至少一个接口；

识别所述外设设备，得到所述外设设备的识别信息；

将所述识别信息发送至所述测试计算机；所述测试计算机用于根据所述识别信息，确定所述外设设备的测试结果。

可选的，所述基于所述测试指令，通过所述屏蔽设备屏蔽所述外设设备的接口组件中的至少一个接口的步骤，包括：

基于所述测试指令，确定所述外设设备所要屏蔽的目标接口；

通过所述屏蔽设备屏蔽所述外设设备的接口组件中的目标接口。

可选的，所述方法还包括：

基于所述测试指令，确定所述外设设备对应的测试次数。

可选的，所述识别所述外设设备，得到所述外设设备的识别信息的步骤，包括：

识别所述外设设备对应的插槽模式信息，作为所述外设设备的识别信息。

可选的，所述方法还包括：

所述测试计算机具体用于根据所述识别信息，确定所述外设设备在被屏蔽的情况下是否符合测试要求，得到测试结果。

可选的，所述测试计算机具体用于根据所述识别信息，确定所述外设设备在被屏蔽的情况下是否符合测试要求，得到测试结果的步骤，包括：